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LBTA款可調(diào)式制備器說明: 適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器,能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙,即Z終涂層厚度。刮涂時以每, O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。
LBTKTQ-II可調(diào)式制備器說明: 適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器,能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙,即Z終涂層厚度。刮涂時以每, O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。
LBT可調(diào)式制備器說明: KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器,能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙,即Z終涂層厚度。刮涂時以每, O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。
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